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半導體跌落試驗機

更新時間:2023-03-11   點擊次數:250次

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一、概述:豪恩系列定向跌落測試儀適用于行動電話(手機)、手機鋰電池、對講機、電子詞典、樓寓對講電話、MP3等小型電子產品配合萬向調節(jié)裝置可完成0度、45度、90度菱、角、面跌落。

二、主要技術參數

  規(guī)格型號:HE-DX-320

1. 三個真空吸盤自由電控切換(各自獨立)

2. 每次跌落完畢,自動返回到吸附位;

3. 跌落高度、吸附高度可設定,跌落次數顯示/清零;

4. 安全門保護功能(全罩式);

5. 采用真空吸盤吸附,配合萬向調節(jié)裝置可完成0°、45°、90°菱角面跌落;

6. 被測體于300mm高度釋放,產品跌落角度接近試驗設定角度;

7. 跌落角度誤差為1°——3°;

8. zuì大測試高度:300——2000mm

9. zuì大跌落重量:2KG;

10. 落下高度設定:LED數字顯示高度;

11. zuì小脫離高度:300mm

12. 計數器:0——99999999(可設定)

13. 底板材料:大理石板

14. 氣源:≧0.5MPa

15. 控制面板:PLC編程觸摸屏控制

東莞市豪恩檢測儀器有限公司

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